パナソニックグループ　エナジー社は9月19日、同社の製HIT太陽電池モジュールがPID（Potential Induced Degradation：電圧誘起出力低下）に対して高い耐性を有することを、社内および第三者機関の検証結果により実証したことを発表した。

PDIは太陽光発電システムを高電圧で使うと、モジュール回路で電流漏れが生じ、出力が低下する現象。一般的な結晶シリコン系太陽電池において、太陽電池セル表面の絶縁層が帯電することがPIDを引き起こす直接の原因と考えられているが、HIT太陽電池はセル最表面（両面）が透明導電膜であり、絶縁層を用いていないことから、セル構造上、PIDは起こり得ないと考えられるといい、欧州、米国、日本のこれまでの市場実績においてPID現象の発生の報告が全くないという。

第三者機関で実施した試験条件の一つは摂氏60度、相対湿度85%、電圧1000V、試験時間96時間であり、これまで公開されてきた第三者機関の試験条件の中でも最も厳しい条件において出力の低下が見られなかった。検証結果は、同社製モジュールの高品質ならびに高信頼性を証明するものとしている。

パナソニック　ニュースリリース
http://panasonic.co.jp/corp/news/official.data/data.dir/2012/09/